利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長（～10-7米），所以干涉儀是以光波波長為單位測(cè)量光程差的，其測(cè)量精度之高是任何其他測(cè)量方法所的。

　　根據(jù)光的干涉原理制成的一種儀器。將來自一個(gè)光源的兩個(gè)光束*分并，各自經(jīng)過不同的光程，然后再經(jīng)過合并，可顯出干涉條紋。在光譜學(xué)中，應(yīng)用精確的邁克爾遜干涉儀或法布里-涉儀，可以準(zhǔn)確而詳細(xì)地測(cè)定譜線的波長及其精細(xì)結(jié)構(gòu)。

　　干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類，前者有瑞利干涉儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫-秦特干涉儀等，涉儀等。干涉儀的應(yīng)用極為廣泛，主要有如下幾方面：

　?、匍L度的精密測(cè)量。在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動(dòng)是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動(dòng)數(shù)可進(jìn)行長度的精確比較或絕對(duì)測(cè)量。邁克耳孫干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。

　?、谡凵渎实臏y(cè)定。兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變，從而引起條紋移動(dòng)。瑞利干涉儀就是通過條紋移動(dòng)來對(duì)折射率進(jìn)行相對(duì)測(cè)量的典型干涉儀。應(yīng)用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對(duì)氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。

　?、鄄ㄩL的測(cè)量。任何一個(gè)以波長為單位測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測(cè)量波長的方法。以國際米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可精確測(cè)定光波波長。（標(biāo)準(zhǔn)具）曾被用來確定波長的初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（鎘紅譜線波長）和幾個(gè)次級(jí)波長標(biāo)準(zhǔn)，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

　?、軝z驗(yàn)光學(xué)元件的質(zhì)量。泰曼干涉儀被普遍用來檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評(píng)估透鏡的波像差。

　?、萦米鞲叻直媛使庾V儀。等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有的光譜分辨率，常用作光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)和超精細(xì)結(jié)構(gòu)分析。