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形貌儀的分類與特點(diǎn)有哪些？
點(diǎn)擊次數(shù)：2306 更新時(shí)間：2018-06-11
形貌儀是一種能在同一測試平臺上實(shí)現(xiàn)多種材料測試的一種工具。針對不一樣的樣品，或者根據(jù)同一樣品的不同區(qū)域，或者針對同一樣品的同一區(qū)域都可以進(jìn)行不同模式的調(diào)節(jié)。目前市面上大多數(shù)使用的有白光干涉形貌儀與雙模式三維表面形貌儀，那么兩者之間哪款更好一些呢?
其實(shí)，二者不難區(qū)分，簡單可以理解為雙模式三維表面形貌儀是在白光干涉形貌儀的基礎(chǔ)上的一種升級。
首先，從掃描模式上，白光干涉形貌儀間距PSI與VSI的模式，而雙模式三維表面形貌儀除了能做到這點(diǎn)之外，利用旋轉(zhuǎn)盤共焦技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)快速垂直掃描。
其次，雙模式三維表面形貌儀有著出色的穩(wěn)定性，無論是機(jī)器本身，或是測試出的參數(shù)、偏差值等等方面，雙模式三維表面都比白光干涉要穩(wěn)定。
雙模式三維表面形貌儀除了兼?zhèn)浒坠飧缮娴乃行阅芤酝?，還有一個(gè)明顯優(yōu)勢，那就是它具有光學(xué)形貌上高的橫向分辨率，空間下樣調(diào)整之后，甚至可以達(dá)到0.05um，在形貌測量以及測試物體表面特征的佳配置。
以上就是二者的區(qū)別所在啦，看過之后不知道對您有沒有幫助。其實(shí)，二者不能說誰優(yōu)誰劣，在購買時(shí)，只要挑選出適合自己的形貌儀就好。
其實(shí)，二者不難區(qū)分，簡單可以理解為雙模式三維表面形貌儀是在白光干涉形貌儀的基礎(chǔ)上的一種升級。
首先，從掃描模式上，白光干涉形貌儀間距PSI與VSI的模式，而雙模式三維表面形貌儀除了能做到這點(diǎn)之外，利用旋轉(zhuǎn)盤共焦技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)快速垂直掃描。
其次，雙模式三維表面形貌儀有著出色的穩(wěn)定性，無論是機(jī)器本身，或是測試出的參數(shù)、偏差值等等方面，雙模式三維表面都比白光干涉要穩(wěn)定。
雙模式三維表面形貌儀除了兼?zhèn)浒坠飧缮娴乃行阅芤酝?，還有一個(gè)明顯優(yōu)勢，那就是它具有光學(xué)形貌上高的橫向分辨率，空間下樣調(diào)整之后，甚至可以達(dá)到0.05um，在形貌測量以及測試物體表面特征的佳配置。
以上就是二者的區(qū)別所在啦，看過之后不知道對您有沒有幫助。其實(shí)，二者不能說誰優(yōu)誰劣，在購買時(shí)，只要挑選出適合自己的形貌儀就好。
